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在局部放电测试中，曾多次发现放电能自行衰减和自行熄灭现象。这种现象的发生，说明在放电过程中，由于放电电荷的作用使气隙内部的物理状态发生了变化，此时已不能再用图1的简单等值回路来表示。

自衰现象往往在两种情况下出现：一种是试品在起始放电电压或稍高于起始放电电压作用下，放电能在短时间内很快自行衰减或熄灭;另一种是试品在高于起始放电电压作用下，在一个稍长的时间过程中放电亦能逐渐衰减或熄灭。

自衰现象产生的原因，是由于气隙在放电过程中在其内壁表面上建立了半导体膜，使气隙表面电阻降低所致，其等值回路可用图2表示。

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